R&Dની પ્રક્રિયામાં હંમેશા એક પગલું હોય છે, LED લેમ્પનું ઉત્પાદન, એટલે કે ઉચ્ચ અને નીચું તાપમાન વૃદ્ધત્વ પરીક્ષણ. શા માટે એલઇડી લેમ્પ ઉચ્ચ અને નીચા તાપમાનના વૃદ્ધત્વ પરીક્ષણને આધિન હોવા જોઈએ?
ઇલેક્ટ્રોનિક ટેક્નોલોજીના વિકાસ સાથે, એલઇડી લેમ્પ ઉત્પાદનોમાં ડ્રાઇવિંગ પાવર સપ્લાય અને એલઇડી ચિપની એકીકરણની ડિગ્રી વધુ અને વધુ છે, માળખું વધુ અને વધુ સૂક્ષ્મ છે, પ્રક્રિયા વધુ અને વધુ છે, અને ઉત્પાદન પ્રક્રિયા વધુ અને વધુ જટિલ છે. , જે ઉત્પાદન પ્રક્રિયામાં કેટલીક ખામીઓ પેદા કરશે. ઉત્પાદન અને ઉત્પાદન દરમિયાન, ગેરવાજબી ડિઝાઇન, કાચો માલ અથવા પ્રક્રિયાના પગલાંને કારણે બે પ્રકારની ઉત્પાદન ગુણવત્તા સમસ્યાઓ છે:
પ્રથમ કેટેગરી એ છે કે ઉત્પાદનોના પ્રદર્શન પરિમાણો પ્રમાણભૂત નથી, અને ઉત્પાદિત ઉત્પાદનો ઉપયોગની જરૂરિયાતોને પૂર્ણ કરતા નથી;
બીજી શ્રેણી સંભવિત ખામીઓ છે, જે સામાન્ય પરીક્ષણ પદ્ધતિઓ દ્વારા શોધી શકાતી નથી, પરંતુ ઉપયોગની પ્રક્રિયામાં ધીમે ધીમે બહાર આવવાની જરૂર છે, જેમ કે સપાટીનું પ્રદૂષણ, પેશીઓની અસ્થિરતા, વેલ્ડિંગ પોલાણ, ચિપ અને શેલની થર્મલ પ્રતિકારની નબળી મેચિંગ અને તેથી. પર
સામાન્ય રીતે, ઘટકો લગભગ 1000 કલાક સુધી રેટેડ પાવર અને સામાન્ય ઓપરેટિંગ તાપમાન પર કાર્ય કરે પછી જ આવી ખામીઓ સક્રિય થઈ શકે છે. દેખીતી રીતે, દરેક ઘટકનું 1000 કલાક માટે પરીક્ષણ કરવું અવાસ્તવિક છે, તેથી આવા ખામીના પ્રારંભિક સંપર્કને વેગ આપવા માટે, હીટિંગ સ્ટ્રેસ અને પૂર્વગ્રહ, જેમ કે ઉચ્ચ-તાપમાન પાવર સ્ટ્રેસ ટેસ્ટ, લાગુ કરવું જરૂરી છે. તે છે લેમ્પ પર થર્મલ, ઇલેક્ટ્રિકલ, મિકેનિકલ અથવા વિવિધ વ્યાપક બાહ્ય તાણ લાગુ કરવા, કઠોર કાર્યકારી વાતાવરણનું અનુકરણ કરવું, પ્રોસેસિંગ સ્ટ્રેસ, શેષ દ્રાવકો અને અન્ય પદાર્થોને દૂર કરવા, ખામીઓને અગાઉથી દેખાડવા અને ઉત્પાદનોને પ્રારંભિક તબક્કામાં પસાર કરવા. શક્ય તેટલી વહેલી તકે અમાન્ય બાથટબ લાક્ષણિકતાઓ અને અત્યંત વિશ્વસનીય સ્થિર અવધિ દાખલ કરો.
ઉચ્ચ-તાપમાન વૃદ્ધત્વ દ્વારા, વેલ્ડીંગ અને એસેમ્બલી જેવી ઉત્પાદન પ્રક્રિયામાં અસ્તિત્વમાં રહેલા ઘટકોની ખામી અને છુપાયેલા જોખમો અગાઉથી ખુલ્લા કરી શકાય છે. વૃદ્ધત્વ પછી, પરિમાણ માપન નિષ્ફળ અથવા વેરિયેબલ ઘટકોને સ્ક્રીન કરવા અને દૂર કરવા માટે હાથ ધરવામાં આવી શકે છે, જેથી શક્ય હોય ત્યાં સુધી સામાન્ય ઉપયોગ પહેલાં ઉત્પાદનોની પ્રારંભિક નિષ્ફળતાને દૂર કરી શકાય, જેથી ખાતરી કરી શકાય કે વિતરિત ઉત્પાદનો સમયની કસોટી પર ટકી શકે. .
હવે તમામ ઈલેક્ટ્રોનિક ઉત્પાદનો ભેજ પર્યાવરણ પરીક્ષણને પહોંચી વળવા જરૂરી છે
ઉત્પાદનની ડિઝાઇનમાં શક્ય તેટલી વહેલી તકે નાજુક ભાગો અને ઘટકો છે કે કેમ તે જાણવા માટે સામાન્ય રીતે ભેજ પરીક્ષણ હાથ ધરવામાં આવે છે, અને શું ત્યાં પ્રક્રિયા સમસ્યાઓ અથવા નિષ્ફળતાની સ્થિતિઓ છે, જેથી ઉત્પાદન ગુણવત્તા ડિઝાઇનમાં સુધારણા માટે સંદર્ભ પ્રદાન કરી શકાય. ઉત્પાદનના પ્રદર્શનની ખાતરી કરવા માટે, પરીક્ષણમાં વિવિધ તાપમાન અને ભેજ સૂચકાંકો અને સમય અંતરાલોનો ઉપયોગ કરવામાં આવશે. આ સમયગાળા દરમિયાન, દરેક તબક્કે પરીક્ષણ પાસ થવું જોઈએ અને સ્પષ્ટીકરણ આવશ્યકતાઓને પૂર્ણ કરવી જોઈએ.
કેટલીક સરળતાથી હાઇગ્રોસ્કોપિક સામગ્રીઓ, જેમ કે પ્રિન્ટેડ સર્કિટ બોર્ડ, પ્લાસ્ટિક એક્સટ્રુઝન, પેકેજિંગ ભાગો વગેરે, પાણીની વરાળના સંપર્કમાં આવતા દબાણ અને સમયના સીધા પ્રમાણમાં પાણીને શોષી લેશે. જ્યારે સામગ્રી વધુ પડતું પાણી શોષી લે છે, ત્યારે તે વિસ્તરણ, પ્રદૂષણ અને શોર્ટ સર્કિટનું કારણ બને છે અને ઉત્પાદનના કાર્યને પણ નુકસાન પહોંચાડે છે, ઉદાહરણ તરીકે, કેટલાક સંવેદનશીલ સર્કિટ વચ્ચે લિકેજ કરંટ થાય છે અને ઉત્પાદન નિષ્ફળતા તરફ દોરી જાય છે. કેટલાક રાસાયણિક અવશેષો પાણીની વરાળને કારણે સર્કિટ બોર્ડના ગંભીર કાટ અથવા ધાતુની સપાટીના ઓક્સિડેશનનું કારણ પણ બની શકે છે. કેટલાક કિસ્સાઓમાં, પાણીની વરાળ અને વોલ્ટેજના તફાવતને કારણે ડેન્ડ્રીટિક ફિલામેન્ટ્સ રચાય છે, જેના પરિણામે ઉત્પાદન સિસ્ટમની અસ્થિરતા અને અન્ય સમસ્યાઓ થાય છે.
જો ઉત્પાદનમાં આવી સમસ્યાઓ હોય, તો આ નિષ્ફળતા મિકેનિઝમ્સની ઘટનાને વેગ આપવા માટે વિવિધ પર્યાવરણીય પરીક્ષણો હાથ ધરવામાં આવશ્યક છે, જેથી ઉત્પાદનના સંભવિત સમસ્યા બિંદુઓને સમજી શકાય.
વેલવેપરીક્ષણ પ્રયોગશાળામાં એક પ્રોગ્રામેબલ તાપમાન અને ભેજ ચેમ્બર છે, જે પ્રોગ્રામ સેટિંગ દ્વારા સમગ્ર વર્ષ દરમિયાન વિવિધ પ્રદેશોમાં તાપમાન અને ભેજના ફેરફારોનું અનુકરણ કરી શકે છે. ઇલેક્ટ્રિક કોન્સ્ટન્ટ ટેમ્પરેચર ડ્રાયિંગ ઓવન અને તાપમાન અને ભેજ ટેસ્ટ ચેમ્બર વિવિધ વાતાવરણમાં LED લેમ્પમાં ઇલેક્ટ્રોનિક ઘટકો પર મર્યાદા પરીક્ષણ કરી શકે છે અને ઉત્પાદનોના સંભવિત સમસ્યાના મુદ્દાઓ શોધી શકે છે. ગ્રાહકોને વિશ્વસનીય અને સ્થિર લેમ્પ ઉત્પાદનો પ્રદાન કરવા માટે અમારા શ્રેષ્ઠ પ્રયાસ કરો.
પોસ્ટનો સમય: એપ્રિલ-26-2022